X光繞射儀(XRD)-跨維綠能材料研究中心

Service核心實驗室

X光繞射儀／X Ray Diffractometer

公告：2022/7/30 機台正常使用中

一、本儀器設備相關人員

儀器設備管理者：
沈祐民博士
王純敏博士
聯絡方式：06-2757575-34260
Email: nckuhigemlab@gmail.com
信件抬頭請註明：HiGEM-XRD_自行/委託操作_使用單位

代理人：
楊智龍先生
會計人員：
小姐
聯絡方式：06-2757575-34257
- 註1: 有委託操作需求者，請跳至第九點查看相關說明，並預先與設備管理者討論X光繞射分析細節。
- 註2: 有自行操作需求者，請跳至第十點查看相關規定與說明。

二、儀器設備說明

儀器型號：X光繞射儀 (D8 Advance ECO) Download Brochure
儀器英文名稱： X Ray Diffractometer
購置日期：107 年 12 月
儀器放置地點：成功大學科技大樓五樓9090室

三、儀器簡介

　　X光繞射儀利用加速電子撞擊金屬靶材，使其產生 X 射線，再將 X 射線照射在材料表面上，由於不同的晶體結構其晶面間距(d)會有所差異，且只有在X光照射射入角度滿足布拉格定律(Bragg’s law) 2d_hklsinθ=nλ(其中hkl是各晶面之指標)時，才會產生建設性干涉，此時探測器(detector)可接收到較強的繞射光束訊號，而這主要是決定於晶胞的形狀、大小及對稱性，因此不同材料或不同結構所發生建設性干涉的角度也不同。

　　基本上晶體之X光繞射實驗提供兩項重要訊息：一是繞射峰的位置(2θ)，二是繞射鋒的強度(I)。第一項訊息提供了晶體之晶胞形狀與大小(即晶格參數)的資料；第二項訊息則提供了晶體內部組成原子種類及位置的資料。隨材料之晶體結構與組成的變化，每個晶體此兩項資料各不相同，正如同人類的指紋一樣，也就是不同結晶化合物會產生相異的{2θ_hkl，I _hkl}組合繞射圖譜，因此可以利用X光的繞射分析來決定材料是屬於那一種礦物晶體或是結晶材料。

四、服務項目

粉末/薄膜繞射分析
多晶成分相鑑定
結晶性分析
鋰電池材料之臨場電化學X光繞射分析 (需使用中心認可之電化學池，以下為一實例)

五、試片注意事項

適用樣品型態：固體粉末、薄膜、厚膜
樣品量測表面盡量平坦
臨場分析所使用之電化學池，需經過中心認可。

六、機台開放時間

全時段開放

七、預約注意事項

經中心管理員認證後，可上儀器預約系統連結1註冊帳號，自行預約儀器使用時段。
如有長時間臨場電化學實驗需求，須於實驗進行前3天告知設備管理員，且於上表之時段(優先 in-situ)中進行預約。
優先 In-situ 時段若未使用，則得以進行一般操作使用。

八、收費資訊

繳款方式：校內以計畫轉帳為主；校外請透過網路收款平台進行繳費https://reurl.cc/Q3mbl0。
若逾期兩週未繳費，會再次提醒使用者及指導教授，如仍無法繳費，則將暫停貴老師全實驗室人員進入使用權限。

九、委託操作

有委託操作需求者，請先聯繫設備管理員沈祐民博士，以討論X光繞射分析細節。
委託操作請填寫『委託操作服務申請表』下載4，請送至本中心辦公室設備管理員，或掃描後 email至nckuhigemlab@gmail.com，本中心會安排代工時間。
操作時間：待收到樣品後即會進行檢測，需要大約2~3個工作天完成。

十、自行操作機台教育訓練相關規定

訓練對象：使用者須參加3小時以上之輻射防護教育訓練，並取得『輻射防護教育訓練證明』，或受過其他原能會認可之輻射防護訓練業者，辦理之3小時以上輻防教育訓練且取得證書。
訓練方式：基礎原理及訓練(2hrs)、實作(2hrs)、認證(2hrs，費用如第八點。
需填寫『儀器設備訓練課程申請表』下載3交付本中心後，經認證合格者，並簽署『國立成功大學跨維綠能材料研究中心儀器使用承諾書』下載2才能自行操作。
使用者權限：
- A 級：須接受中心訓練、實作、認證課程，並取得認證以及達100小時使用時數，經由經設備管理者認可，即可成為A級使用者。可自行操作儀器並負責儀器訓練課程、委託服務工作以及維護儀器設備功能性，具有使用儀器設備之最高權限。
- B 級：須接受中心訓練、實作、認證課程，並取得認證。可自行操作儀器。

十一、相關文件下載